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| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,電子/電池,航空航天,電氣,綜合 |
美國Sumix MAX-QS+干涉儀MAX-QS+ 是一款白光相移干涉儀，用于檢測單光纖 ST、FC、SC、LC、MU、E2000™（PC 和 APC）、小尺寸多光纖 MT-RJ（PC 和 APC）、SMA 和特殊連接器。MAX-QS+ 具有便攜式設計、自動對焦、100 微米光纖高度掃描范圍和 1.1 微米分辨率。
該設備通過 USB 3.0 電纜和 12V 直流電源適配器連接到筆記本電腦或臺式計算機。
Sumix MAX-QS+ 配備行業的 MaxInspect™ 軟件，用于光纖連接器的干涉檢測。
Sumix MAX-QS+干涉儀特征：
探索小至 1.1 μm 的表面細節。
2：自動對焦
將操作員的操作降至很低，只需單擊一下。
加快巡檢速度，提高工作效率。
在 2 秒或更短的時間內測量單個光纖連接器。
在測量之前目視檢查連接器端面。
測量曲率半徑、頂點偏移、纖維高度等。
準確檢測具有較大不連續性和特殊連接器的套圈表面。
8：數據庫連接
將所有本地站點的測量數據存儲在一個地方，并輕松地將 Sumix 設備集成到您的制造系統中
MAX-QS+干涉測量系統包括：
MAX-QS+干涉儀
用于設備驗證的光學平面標準
USB 3.0 數據線
AC適配器
內六角扳手
箱
MaxInspect™ 軟件許可證
美國Sumix MAX-QS+白光干涉儀測粗糙度
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